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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237測厚儀臺(tái)式自動(dòng)化測量設(shè)備，其融合高精度定位系統(tǒng)、靈活探測技術(shù)與人性化操作設(shè)計(jì)，可滿足電子、珠寶、制造等多行業(yè)的質(zhì)量控制、生產(chǎn)監(jiān)控及研發(fā)需求，是兼顧測量精度與檢測效率的專業(yè)解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域

電子與半導(dǎo)體工業(yè)

測量印刷電路板 Au/Pd 等納米級超薄鍍層（≤0.1μm），檢測接插件功能性涂層厚度，分析焊料中鉛含量等關(guān)鍵指標(biāo)。

珠寶與貴金屬行業(yè)

黃金飾品鍍層厚度檢測、貴金屬純度分析，適配 hallmarking（印記認(rèn)證）中心的標(biāo)準(zhǔn)化檢測需求。

通用制造與研發(fā)

多涂層系統(tǒng)厚度測量、合金成分分析、硬質(zhì)涂層檢測，支持來料檢驗(yàn)與生產(chǎn)過程中的批量質(zhì)量篩查。